Laboratuvar

XRD ve XRF Cihazı Teknik Bilgiler

X-Işını Kırınım yöntemi (XRD), her bir kristalin fazın kendine özgü atomik dizilimlerine bağlı olarak, X-ışınlarını karakteristik bir düzen içerisinde kırması esasına dayanır. Her bir kristalin faz için bu kırınım profilleri bir nevi parmak izi gibi o kristali tanımlar. X-Işını Kırınım analiz metodu, analiz sırasında numuneyi tahrip etmez ve çok az miktardaki numunelerin dahi analizlerinin yapılmasını sağlar. X-Işını Kırınım cihazıyla kayaçların, kristalin malzemelerin, ince filmlerin ve polimerlerin nitel ve nicel incelemeleri yapılabilir.

Xrf spektrometre olay radyasyonu ile uyarılan örneklerin ölçümü ve analizidir. Metallerin, seramiklerin, jeolojik örneklerin, tarihi öğelerin ve daha fazlasının elementel ve kimyasal yapısında doğru araştırmalara izin veren, tahribatsız bir malzeme karakterizasyonu yöntemidir. Bu yöntem, mükemmel ölçüm doğruluğu ve tekrarlanabilirliği sağlamak için bir XRF spektrometresine ve özel numune hazırlama rutinlerine dayanır.